Egyedi atomi töltést sikerült megmérni

 Az IBM kutatóinak új eljárásában azonban ez már nem szükséges feltétel - számolt be róla a Science tudományos magazinban megjelent közlemény alapján a BBC hírportálja (http://bbc.co.uk).

    Gerhard Meyer, az IBM zürichi kutatólaboratóriumának munkatársa 2004-ben mutatta meg először, hogy egyedi atomi töltések is megmérhetők a pásztázó alagútmikroszkóp (STM) segítségével. Ennél az eljárásnál azonban a mintának egy elektromosságot vezető anyag felszínén kell lennie, hogy a töltések elmozdulhassanak.
    Az új módszernél az úgynevezett atomi erő mikroszkópiát (AFM) alkalmazták. Ennél a kutatási eszköznél a minta felszínét aprócska tűhegy pásztázza végig, feltérképezve atomi méretű domborzatát. A "tűhegy" ebben az esetben egyetlen atomban végződött, mely a töltéssel bíró mintához közeledve kissé megváltoztatja rezgésének frekvenciáját.
    A tűhegyet tartó konzol ebből eredő kitérése kisebb egy atom átmérőjénél, a kutatócsoport ezt mérte, és ebből állapította meg, hogy egyetlen arany- vagy ezüstatomnak egy többletelektronja van-e, vagy éppen hiánya.
    A töltésátadási folyamatok ismerete a napelemek hatékonyságának meghatározásában is segíthet. "Ez az, ami olyan fontossá teszi ezt a technikát; nem csupán egy atom töltöttségi állapotáról van szó, tovább kívánunk lépni, molekulákat vizsgálni és a töltések eloszlását mérni" - mondta Leo Gross, az IBM munkatársa.